JE International 产品特点：
JE 国际（JE International）隶属于日本 YAC 集团，主营 AI 光学外观检查设备。产品搭载自研 AI 与图像处理算法，可实现微米级微小缺陷识别，部分机型支持双面同步检测，配合自研专用光源，适配透射、反射等多种成像模式，兼顾超高分辨率与检测速度。设备支持定制开发，可根据被测工件形态、产线布局调整机构与检测逻辑，包含 3D、复合检测等多类机型，兼容卷材、片材等多种进料形式。
应用行业：
产品广泛应用于显示与半导体行业，覆盖 FPC 柔性电路板、触控传感器、金属掩膜版、玻璃光罩、光学薄膜，同时适配引线框架、金属 PCB、汽车零部件等检测场景，为电子制造环节的外观缺陷筛查提供整套视觉检测方案，贴合高精度元器件量产质检需求。
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