LVDT 多通道测微控制器

Name: LVDT 多通道测微控制器
Brand: ACCRETECH东京精密
SKU: PULCOM V9

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产品名称: LVDT 多通道测微控制器

产品型号: PULCOM V9

产品厂商: 岩濑商事

产品品牌: ACCRETECH东京精密

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LVDT 多通道测微控制器 的详细介绍

ACCRETECH 东京精密产品特点：

一、整体共性

双业务布局：精密测量仪器 + 半导体工艺设备，自研整机、光栅、软件，配套耗材兼容性稳定

宽温适配，防尘密封，车间长期量产精度衰减小，多工况 / 洁净产线可定制

模块化测头选配，支持触发、扫描、光学测量，自动化配件齐全

机型梯度完整，空间紧凑低能耗，覆盖小件量产到实验室基准级检测

适配半导体、3C、模具、汽车、医疗、航空多行业，配套本地化维保

二、三坐标细分精简特点

mju NEX：小型紧凑型，节能省占地，适合微型小件批量检测

AXCEL PH：经济型触发机型，两种导轨防护可选，主打点位尺寸检测

AXCEL RDS：全能扫描机型，支持曲面 / 非接触测量，复杂工件高精度检测

ZEISS XENOS：代理超高精度机型，大行程，计量实验室基准校准专用

核心应用行业：

半导体晶圆、芯片封测

3C、精密模具、光学元件检测

汽车、航空航天精密零部件质控

医疗器械、轴承计量、自动化在线检测

项目	参数详情
产品型号	PULCOM V9，代表型式 E-PV9xxx，一体式 BOX 箱体机型
适用场景	工序内在线检测、工序后成品检测通用
显示屏	5.7 英寸 QVGA 彩色液晶，电阻式触控面板
测量量程档位	±10 / ±20 / ±50 / ±100 / ±500 / ±800 / ±2000 / ±3000 / ±5000 μm 多档切换
显示分辨率	0.01 / 0.05 / 0.1 / 0.5 / 1 μm 可选
显示单位	μm、mm
采样速度	1ms，数据刷新周期 8ms
防护等级	仅前面板等效 IP54，后部无防水防尘结构
使用温湿度	0～50℃，10～90% RH，无结露环境
耐振动冲击	符合 JIS C1003 标准
认证	CE 仅面板型号对应，BOX 整机无 CE 标识
外形尺寸	W170 × D240 × H152 mm，整机重量 3.5kg
供电规格	AC85～250V 宽幅交流，标配保险丝、电源线
基础通道	主机*大接入 4 支位移传感器
扩展上限	*多 16 个测头扩展单元，整机合计 32 路测量项目
判定输出	7 档 OK/NG 尺寸判定信号输出

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